Beschreibung
Galliumnitrid GaN, CAS 25617-97-4, Molekulargewicht 83,73, Wurtzit-Kristallstruktur, ist ein Halbleiter mit direkter Bandlücke aus einer binären Verbindung der Gruppe III-V, der durch ein hochentwickeltes ammonothermales Prozessverfahren gezüchtet wird.Gekennzeichnet durch eine perfekte kristalline Qualität, hohe Wärmeleitfähigkeit, hohe Elektronenmobilität, ein hohes kritisches elektrisches Feld und eine große Bandlücke, hat Galliumnitrid GaN wünschenswerte Eigenschaften in Optoelektronik und Sensoranwendungen.
Anwendungen
Galliumnitrid GaN eignet sich für die Herstellung von hochmodernen, lichtemittierenden Dioden mit hoher Geschwindigkeit und hoher Kapazität, LED-Komponenten, Laser- und optoelektronischen Geräten wie grünen und blauen Lasern, High-Electron-Mobility-Transistoren (HEMTs) und in Hochleistungsprodukten und Hochtemperaturgeräte herstellende Industrie.
Lieferung
Galliumnitrid-GaN von Western Minmetals (SC) Corporation kann in der Größe eines kreisförmigen Wafers von 2 Zoll oder 4 Zoll (50 mm, 100 mm) und eines quadratischen Wafers von 10 × 10 oder 10 × 5 mm bereitgestellt werden.Jede kundenspezifische Größe und Spezifikation ist die perfekte Lösung für unsere Kunden weltweit.
Technische Spezifikation
Galliumnitrid GaNbei Western Minmetals (SC) Corporation kann in der Größe eines kreisförmigen Wafers von 2 Zoll oder 4 Zoll (50 mm, 100 mm) und eines quadratischen Wafers von 10 × 10 oder 10 × 5 mm bereitgestellt werden.Jede kundenspezifische Größe und Spezifikation ist die perfekte Lösung für unsere Kunden weltweit.
Nein. | Artikel | Standardspezifikation | ||
1 | Form | Kreisförmig | Kreisförmig | Quadrat |
2 | Größe | 2" | 4" | -- |
3 | Durchmesser mm | 50,8 ± 0,5 | 100 ± 0,5 | -- |
4 | Seitenlänge mm | -- | -- | 10x10 oder 10x5 |
5 | Wachstumsmethode | HVPE | HVPE | HVPE |
6 | Orientierung | C-Ebene (0001) | C-Ebene (0001) | C-Ebene (0001) |
7 | Leitfähigkeitstyp | N-Typ/Si-dotiert, undotiert, halbisolierend | ||
8 | Widerstand Ω-cm | < 0,1, < 0,05, > 1E6 | ||
9 | Dicke μm | 350±25 | 350±25 | 350±25 |
10 | TTV μm max | 15 | 15 | 15 |
11 | Bogen μm max | 20 | 20 | 20 |
12 | EPD cm-2 | <5E8 | <5E8 | <5E8 |
13 | Oberflächenveredlung | P/E, P/P | P/E, P/P | P/E, P/P |
14 | Oberflächenrauheit | Vorderseite: ≤ 0,2 nm, Rückseite: 0,5–1,5 μm oder ≤ 0,2 nm | ||
15 | Verpackung | Einzelwaffelbehälter in Aluminiumbeutel versiegelt. |
Lineare Formel | GaN |
Molekulargewicht | 83.73 |
Kristallstruktur | Zinkblende/Wurtzit |
Aussehen | Durchscheinender Feststoff |
Schmelzpunkt | 2500 Grad |
Siedepunkt | N / A |
Dichte bei 300K | 6,15 g/cm3 |
Energielücke | (3,2–3,29) eV bei 300 K |
Eigenwiderstand | >1E8 Ω-cm |
CAS-Nummer | 25617-97-4 |
EG-Nummer | 247-129-0 |
Galliumnitrid GaNeignet sich für die Herstellung von hochmodernen, lichtemittierenden Dioden mit hoher Geschwindigkeit und hoher Kapazität, LED-Komponenten, Laser- und optoelektronischen Geräten wie grünen und blauen Lasern, Produkten mit Transistoren mit hoher Elektronenmobilität (HEMTs) und in Hochleistungs- und Hochleistungs- Industrie zur Herstellung von Temperaturgeräten.
Beschaffungstipps
Galliumnitrid GaN